Bekendtgørelse om frivillig forudgående gennemsigtighed · 24. august 2026
Blade Dicing Saw
Danmarks Tekniske Universitet - DTU offentliggjorde 24. august 2026 en bekendtgørelse om frivillig forudgående gennemsigtighed om »Blade Dicing Saw«.
- Type
- Bekendtgørelse om frivillig forudgående gennemsigtighed
- Ordregiver
- Danmarks Tekniske Universitet - DTU
- By
- Kgs. Lyngby
- Offentliggjort
- 24. august 2026
- Kontrakttype
- Varer
- Procedure
- Udbud med forhandling uden forudgående offentliggørelse
- CPV-koder
- 38000000
- TED-nummer
- 581505-2026
Beskrivelse fra ordregiveren
DTU Nanolab intends to procure a semi-automatic wafer dicing system for research and cleanroom operations. The equipment must be capable of processing wafers up to 300 mm diameter and support conventional wafer dicing, circular wafer cutting, multi-circular cutting, and edge trimming of circularly cut wafers to improve mechanical strength and handling robustness. The system must also be capable of processing hard and thick materials used in advanced microfabrication and semiconductor research, including materials such as silicon carbide (SiC) and piezoelectric substrates. The equipment will be installed and operated in DTU Nanolab's multi-user cleanroom environment and will support research, innovation, and industrial collaboration activities.
Andre bekendtgørelser fra Danmarks Tekniske Universitet - DTU
- Parkeringssystem Danmarks Tekniske Universitet - DTU · 11. november 2026 · frist 27. november 2026 · ca. 2.000.000 kr.
- ICP-MS/MS system for elemental analysis of high-salinity brines Danmarks Tekniske Universitet - DTU · 5. november 2026
- Procurement of Biomark X9 system Danmarks Tekniske Universitet - DTU · 30. oktober 2026
- Tilkøb af HelioxVT-indsats til eksisterende TeslatronPT cryostat Danmarks Tekniske Universitet - DTU · 29. oktober 2026
- Parkeringssystem Danmarks Tekniske Universitet - DTU · 27. oktober 2026 · frist 11. november 2026 · ca. 2.000.000 kr.
- The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source Danmarks Tekniske Universitet - DTU · 15. oktober 2026 · frist 16. november 2026
Kilde
Bekendtgørelsen er offentliggjort i TED (nr. 581505-2026). Teksten er ordregiverens egen. Udbudsmaterialet og eventuelle rettelser findes hos ordregiveren eller i TED. Genbrug med kildeangivelse (Kommissionens afgørelse 2011/833/EU).